Análise Numérica de Sensor de Ressonância Plasmônica de Superfície Baseado em Grafeno na Faixa de Terahertz.
Ondas em Terahertz, Sensor Plasmônico, Grafeno, Configuração de Kretschmann.
Este trabalho propõe um sensor de índice de refração plasmônico em Terahertz baseado em Single-Layer Graphene operando como refratômetro na faixa de Terahertz. A configuração utilizada é Kretschmann, onde uma das variáveis que monitora a refletividade é o potencial químico. O sensor foi analisado teoricamente pelo método dos elementos finitos (FEM), com o modelo em uma estrutura bidimensional. Onde foram calculadas as refletividades e as distribuições de campo para diferentes parâmetros, como a espessura, frequência, ângulo e da permissividade. Primeiramente foi feito um estudo para determinar a melhor frequência de operação, ângulo de incidência e espessura mínima da amostra. Posteriormente comparou-se com modelo numérico com o analítico. A partir dos resultados numéricos foram feitas análises paramétricas para verificar as variações na sensibilidade, largura a meia altura (FWHM) e resolução, todos parâmetros de qualidade do dispositivo. Os resultados numéricos são comparados com conceitos teóricos disponíveis na literatura e em trabalhos publicados recentemente.